Date post: | 14-Jul-2015 |
Category: |
Documents |
Upload: | camelia-negoia |
View: | 285 times |
Download: | 1 times |
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 1/55
Universitatea POLITEHNICA din Bucureşti
Catedra de Ştiinţa şi Ingineria Materialelor Oxidice şi Nanomateriale
Curs 5
Metode de caracterizare amaterialelor nanostructurate
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 2/55
B. MICROSCOPIA DE SCANARE
nnin r mi r SPM)
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 3/55
enera
Microscopul de scanare cu efect de tunel (STM) a fost. ,
în cadrul laboratorului de cercetare IBM Zurich,
Rueschlikon, Elveţia;
Binnig şi Rohrer au primit premiulNobel pentru fizică în 1986 pentru
această descoperire;
Sigla companiei IBM scrisă cu atomi de xenon
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 4/55
enera
Microscopul de scanare cu efect de tunel (STM) a fost. ,
la laboratorul de cercetare IBM Zurich, Rueschlikon,
Elveţia; este primul instrumentcapabil să obţină imagini 3Dale suprafeţelor solide, cu
rezoluţie la nivel atomic; microscoapele STM pot fifolosite pentru a studia Suprafața unei probe de siliciu, mărit ăexclusiv suprafeţele care au
un grad oarecare deconductibilitate.
de 20 de milioane de ori, astfel încât să
permit ă vizualizarea atomilor;imagine prelucrat ă computerizat
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 5/55
enera
Aplicaț ii:
inducerea unor noi proprietăţi la nivel nanometric, prin:
- ardere la nivel nano- inducere de reacţii chimice la nivel nano;
nanoprelucrare mecanică.
Atomii de fier au fost pozi ţ ionaţ i individual
astfel încât să formeze grupări cu diversegeometrii pe o suprafaţă de cupru
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 6/55
enera
Pe baza design-ului STM, în 1985 Binnig şi colaboratorii
Măsoar ă for ţe foarte mici (mai puţin de 1nN) prezente
între vârful AFM şi suprafaţa probei de examinat.
poate fi folosit pentru examinarea tuturor tipurilor de suprafeţe, fie ele conductoare
este folosit pentru măsur ători normale şitopografice la scar ă micro sau nano.
Imagine AFM
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 7/55
enera
AFM modificate astfel încât să măsoare atât for ţenormale, cât şi pe cele laterale sunt numite microscoape
\ FFM).
n num r e cerce or au con nua s m un eascAFM \ FFM, astfel încât să poată fi folosite pentru amăsura:
adeziunea şi frecarea la nivelul unor suprafeţe lichide / solide lascar ă micro sau nano; gradul de zgâriere al unei suprafe e; gradul de uzur ă al unei suprafeţe;
proprietăţi mecanice (precum duritatea sau modulul deelasticitate).
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 8/55
enera
AFM sunt folosite pentru:
manipularea individuală a atomilor de xenon, molecule, și
plasarea lor pe suprafeţe de siliciu şi polimerice; nanofabrica ie nanoprelucrare mecanică.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 9/55
enera
Comparaţ ie între diverse microscoape convenţ ionale şi SPM
OPTIC SEM/TEM Confocal SPMM rirea 10 10 10 10
Preţul
[U.S. $]
Vârsta200 ani 40 ani 20 ani 20 ani
e no og e
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 10/55
enera
Microscoapele STM şi AFM sunt folosite la măriri3 9, , , ,
pentru:
,foarte înaltă; spectroscopie.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 11/55
enera
STM şi AFM pot fi folosite în orice mediu, precum: aer diverse gaze; lichide; vid.
Imagistica în lichid permite:- studiul robelor biolo ice vii
- vizualizarea cristalelor lichide sau a moleculelor lubrifiante pesuprafeţe de grafit;- eliminarea fenomenului de capilaritate, prezent în mediul ambiantla interfaţa vârf-probă.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 12/55
enera
STM şi AFM pot fi folosite la: tem eraturi scăzute mai u in de 100°K temperaturi ridicate.
Imagistica la temperaturi scăzute (la temperatura heliului lichid) sefoloseşte pentru:
studiul materialelor organice şi biologice; studiul fenomenelor care au loc la temperaturi scăzute – precum
supercon uc v a ea; hăr ţi foarte acurate de orientare a for ţelor, datorită reducerii vibraţiilor termice.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 13/55
enera
Stiinţ a şi tehnologia la nivel nanometric sunt dependente
,
suprafeţ elor la nivel atomic.
pe care se bazează SPM, acesta a început să fie folosit în multedomenii în afara cercetării fundamentale;
Familiile de instrumente bazate pe STM şi AFM, denumitemicroscoape de scanare (SPM), au fost dezvoltate pentru a fi utilizate în diverse domenii de interes ştiinţific şi industrial.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 14/55
m
Concepte generale în SPM - AFM și STM sau STEM.
[http://www.nanowerk.com/nanotechnology/videos/video
14.php]
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 15/55
. .
CU EFECT TUNELcann ng unne ng crosopySTM)
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 16/55
enera
Principiul tunelizării electronilor a fost propus de
două metale, separate de un strat izolator foarte fin, se va
genera un curent, produs de abilitatea electronilor de apene ra ar era zo a oare. Vidul ofer ă condiţii ideale pentru fenomenul de tunelizare.
en ru a se pu ea m sura un curen e une zare, ce edouă metale trebuie să se afle la o distanţă mai mică de 10nm.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 17/55
enera
Binnig şi col. au impus tunelizarea în vid, combinată cu.
Scanarea laterală permite obţinerea de imagini ale suprafeţelor
- lateral - mai puţin de 1 nm;- vertical - mai puţin 0,1 nm,
suficiente entru a defini ozi ia unui sin ur atom.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 18/55
ezo u e
Rezoluţia verticală foarte înaltă a STM este obţinută
distanţa dintre cei doi electrozi (vârful metalic şi suprafaţa
de scanat).
Tipic, curentul de tunelizare descreşte cu un factor de 2dacă distanţa creşte cu 0,2 nm.
Rezoluţia laterală foarte înaltă e dependentă de.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 19/55
r componen e
Nanoscopul STM e compus din trei păr ţi principale:
Capul de scanare, care conţine:
- –vârfului;
- Circuitul de preamplificare (amplificatorul de intrare FET),,
determinării;
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 20/55
r componen e
Nanoscopul STM e compus din trei păr ţi principale:
Capul de scanare:
- - -12,7mm diametru, montat într-o carcasă izolatoare, folosităpentru a minimiza variaţiile verticale de temperatur ă;
o Piezo-tubul are electrozi separa i pentru X, Y, i Z, care au
circuite de reglare separate.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 21/55
r componen e
Nanoscopul STM e compus din trei păr ţi principale:
Capul de scanare:
- , ,obicei fabricate din:
- fire metalice din tugsten (W);- platină-iridiu (Pt-Ir);
- aur (Au).
Vârful de scanare
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 22/55
r componen e
Nanoscopul STM e compus din trei păr ţi principale:
Capul de scanare:
-- șlefuire;- tăiere (cu cutter sau o lamă foarte ascuţită) ;- emisie\evaporare în câmp;
- laminare în flux de ioni;- rupere;- gravare\polizare electrochimică.
Vârful de scanare
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 23/55
r componen e
Nanoscopul STM e compus din trei păr ţi principale:
Baza de montare a probei;
upor u , care sus ne aza ş capu .
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 24/55
r nc p u e unc onare
Un vârf ascuţit
metalic (un electrod aladus în apropiereasuprafeţei (la 0,3 – 1
Vârf nm) de investigat (aldoilea electrod).
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 25/55
r nc p u e unc onare
la un voltajconvenabil (10 mV –
1 V , curentul detunelare variază de la0,2 la 10 nA, ceea ce
Vârf suficentă de marepentru a putea fim sura .
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 26/55
r nc p u e unc onare
Vârful baleiază
suprafa a de examinatla o distanţă de 0,3–1 nm, și în acest timp
Vârf tunelar dintre el şisuprafaţă
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 27/55
Prin i i l in r imaginii
I = ct. H = ct.
STM poate fi operat în regim de:
Înălţime constantă.1 s c a
ar e
n s
an ă r i
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 28/55
Prin i i l in r imaginii
I = ct. H = ct.
STM poate fi operat în regim de:
o reţea de feedback permite
1 s c a
,să r ămână constant; deplasarea vârfului, dată de curentula licat, creează o hartă to o rafică a
ar e
n s
suprafeţei.
an ă r i
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 29/55
Prin i i l in r imaginii
I = ct. H = ct.
STM poate fi operat în regim de:
vârful metalic poate baleia suprafaţa la
1 s c a
n me ş vo a aproape cons an e, ntimp ce curentul este monitorizat; regimul este de obicei folosit pentru
ar e
n s
nu este aplicabil suprafeţelor rugoase.
an ă r i
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 30/55
imaginii
I = ct. H = ct. O imagine 3D [z(x, y)] a
multiple [z(x)] reprezentate lateral
una faţă de cealaltă pe direcţia y.1 s c a
ar e
n s
an ă r
i
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 31/55
Prin i i l in r imaginii
I = ct. H = ct. Trebuie reţinut că dacă într-o
specii atomice, se vor produce
curenţi tunelari diferiţi pentru un1 s c a
voltaj dat.
Datele obţinute în regim de înălţime ar e
n s
constantă ar putea să nu fie o reprezentareexactă a topografiei suprafeţei probei.
an ă r
i
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 32/55
mag n
Imagine STM - Suprafața unei
probe de Si, după direc ția
cristalografic ă (111) Ga As
Imagine STM - Suprafaţ a unei probe
GaAs(110)
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 33/55
mag n
Imagini STM ale unor
domenii oxidicemonodisperse, pe un alt oxid
Triunghiurile întunecate
trioxidului trimeric detungsten, în timp ce partea
luminoasă arat ă atomul de
tungsten cu n ve energet c
înalt
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 34/55
m
Introducere în studiul STM.
Animaț ia prezintă capabilitatea de analiză a STM,
precum și câteva elemente legate de modul deunc onare.
[http://www.nanowerk.com/nanotechnology/videos/video19.php]
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 35/55
m
Exemplu de imagini STM înregistrate simultancu determinarea presiunii par ț iale a reactanț ilor șipro uș or e reac e.[http://www.physics.leidenuniv.nl/sections/cm/ip/p
rojects/reactor-stm/] n partea de sus sunt prezentate imagini STM
(210nm x 210 nm, 65 s/image). În partea de jos sunt prezentate presiunile par ț iale
a e ,2
an2, pe scar ogar m c pe axa
verticală: 10-4-1 bar). Timpul total de înregistrare este de 125 min.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 36/55
B.2. MICROSCOPIA DE FOR ȚĂ
AT MI Ă (Atomic Force Microsopy AFM)
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 37/55
enera
Ca şi STM, AFM se bazează pe o tehnică de baleiere
suprafeţei probei de examinat.
Imagine AFM a osului cortical, care relev ă
organizarea colagenului în şi
în jurul unei lacune
osteocitare
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 38/55
enera
AFM măsoar ă for ţe foarte mici (mai puţin de 1nN)
examinat.
ces e or e oar e m c sun eva ua e pr n m surareamişcării unui suport foarte flexibil de masă foarte mică.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 39/55
enera
În timpul unei măsur ători AFM, de obicei este mişcată,
măsoar ă deplasarea relativă dintre suprafaţa consolei
flexibile şi cea de referinţă, şi orice mişcare a suportului ar a ăuga v raţ .
Pentru măsuratorile pe probe mari există AFM-uri la care.
La AFM se detectează for ţele care se stabilesc întreprobă şi vârf, nu curentul tunelar, ca în cazul STM.
Evaluarea acestor for ț e permite poziț ionarea vârfului de
scanare faț ă de probă.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 40/55
r nc p u e unc onare
AFM poate fi folosit:
în regim static;
în regim dinamic.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 41/55
r nc p u e unc onare
AFM poate fi folosit:
o se mai numește mod de respingere sau mod de contact;,
(consolă) flexibil este adus în contact cu suprafaţa probei;
Link pentru animaț ie:
http://monet.physik.unibas.ch/famars/statanim.htm
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 42/55
r nc p u e unc onare
AFM poate fi folosit:
o în timpul contactului iniţial, atomii vârfului sunt supuşi unei,
orbitalilor atomilor vârfului cu cei ai atomilor de pe suprafaţade examinat;
o For a ce ac ionează la vârf roduce o deviere a su ortului
flexibil care este măsurată cu ajutorilor unor detectori de tip:- efect tunel;- capacitiv;- op c;
o Devierea poate fi măsurată până la valori de 0,02 nm.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 43/55
r nc p u e unc onare
AFM poate fi folosit:
o se numeste şi imagistică prin for ţă de atracţie sau imagistică
non-contact;o vârful este adus în proximitate (la câţiva nm), nu în contact
cu proba.
Link pentru animaț ie:
http://monet.physik.unibas.ch/famars/dyn_anim.htm
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 44/55
r nc p u e unc onare
AFM poate fi folosit:
o Suportul flexibil este vibrat intenţionat:-- modulat în frecvenţă (FM);
o Gradientul de for ţă este obţinut prin vibraţia suportului flexibil
şi măsurarea modificării frecvenţei de rezonanţă a acestuia.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 45/55
r nc p u e unc onare
AFM poate fi folosit:
o For ţe van der Waals foarte slabe sunt prezente la interfaţa-
o Deși această tehnică este mai performantă, pentru că nu seaplică presiune pe suprafaţă, deci nu există deformare, earezintă dezavanta e:
- durată mare a determinării;- greu de utilizat; folosită aproape exclusiv în cercetare.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 46/55
mag n
Ilustrarea schematic ă a
func ționării AFM în regim dinamic
(a) stabilirea unei interac ţ iuni
chimice între atomul vârfului şi un
(reprezentat ă prin linia verde)
(b) For ţ ele care se creeaz ă în
urma aceastei interac iuni nu sunt
numai locale, datorate reac ției chimice, dar și de mai mare
distanță: van der Waals şi
de obicei minimizate prin condi ții
experimentale adecvate)
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 47/55
mag n
c) curbe obţ inute pentru for ţ ele
van der Waals, for a local ă de
interac ţ iune chimic ă şi for ţ atotal ă, care arat ă dependenţ a
-
suprafaţă
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 48/55
mag n
d), e) imagini AFM ale unui înveli ş
unic de atomi de Sn (d) şi Pb (e) peste un substrat de Si (111). La
nivelul acestor suprafeţ e se pot
evidenţ ia defecte de substituţ ie,
ț -
topografic sc ăzut. S ăgeţ ile verzi arat ă zonele unde s-au efectuat
masur ătorile spectroscopice.
Dimensiunile câmpului sunt
(4,3x4,3) nm2 .
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 49/55
mag n
(a) imagine AFM care arat ă structura
suprafeţ ei filmului depus. Seobserv ă forma piramidal ă a Cu2 O,
definit ă de planele [111].
(b) Imagine TEM în sec ţ iune care arat ă.
(c) Spectru SAED a acoperirii şi asubstratului, care arat ă orientarea
lor epitaxial ă: Cu2 O[001]//STO[001]
ş u2 .
(d) Spectru de difrac ţ ie procesat pe
computer.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 50/55
mag n
Organizarea membranei la bacterii carefac fotosintetiz ă – observat ă la AFM în
timpul expunerii la lumină puternic ă.
Centrele de “recoltare” a luminii (cercurile
reac ţ ie (cercurile mari cu densitatecentral ă ) în care se utilizeaz ă energia
luminoasă. Centrele de reac ţ ie sunt
organizate astfel nc t s utilizeze energia
luminoasă dat ă de lumina puternic ă.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 51/55
mag n
Imagine AFM în care se eviden iaz ă
individual atomi de nichel, plumb,siliciu (albastru, verde, respectiv
roşu) pe o suprafaţă
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 52/55
mag n
Imagine AFM în care se observ ă atomi de siliciu. S-a dezbătut ipoteza conform
c ăreia formele de umbr ă-lumină de pe
atomi reprezint orbitali.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 53/55
. . _Pages/Videos/Videos.html
Imagine AFM 2mmX2mm în acest clip se observă multitudinea de informaţii care estecolectată folosind 10 vârfuri paralele. 25 de milioane de pixeli sunt obţinuţi la o trecere de 2mm, fiecare
vârf scanează o secţiune lată de 200μm. o imagine corectă de AFM ar conţine 40 de milioane de pixelispaţiaţi la 50nm.
Acest clip, care include şi explicaţiile aferente, evidenţiazăprogresul în ceea ce priveşte viteza şi aria de scanare a AFM.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 54/55
. . _Pages/Videos/Videos.html
Demonstraţie – Suport flexibil AFM cu activator integratentru feedback – VEDERE DIN FA A Demonstraţie – Suport flexibil AFM cu activator integrat(pentru feedback) – VEDERE DIN LATERAL
Clipul arată un model de vârf de scanare din ZnO cu senzor şiactivator integrate. Se observă cum regiunea-senzor este deviatăcand vârful baleiază suprafaţa, de asemenea se observă că zona-ac va or pre a ev a a cu scopu e a men ne o or cons an
între vârf şi suprafaţa probei.
5/12/2018 Metode de Caracterizare a Materialelor Nanostructurate - slidepdf.com
http://slidepdf.com/reader/full/metode-de-caracterizare-a-materialelor-nanostructurate 55/55
me
Thermomechanical Writing with an Atomic Force
[http://www.youtube.com/watch?v=IcZeKrwE4-U]
om c orce croscopy - nc e ur e[http://www.youtube.com/watch?v=0Tg4TVLmQz8&feature=related]
Gerton Lab - Atomic force microscopy= =. .